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方案概述

“對于醫療設備(bei),在設計之時就(jiu)要考慮電(dian)(dian)磁兼容問(wen)題。一般針對電(dian)(dian)磁干(gan)擾整改(gai)有三個途徑,屏蔽,接地,濾波(bo)。可(ke)以(yi)借(jie)助屏蔽材料或吸波(bo)材料來(lai)幫(bang)助解(jie)決電(dian)(dian)磁屏蔽問(wen)題,解(jie)決的方(fang)案兆科推薦(jian)使用吸波(bo)材料來(lai)吸收電(dian)(dian)磁波(bo),消除電(dian)(dian)磁干(gan)擾,這(zhe)樣就(jiu)都(dou)可(ke)有效抑制電(dian)(dian)子設備(bei)中的電(dian)(dian)磁干(gan)擾問(wen)題。”

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主要依據標準

CISPR 11/EN 55011/GB 4824

IEC 60601-1-2/YY 0505

IEC 61326-1/GB T18268.1

IEC 61326-2-6/GB T18268.26

IEC 61000-3-2/GB 17625.1

IEC 61000-3-3/GB 17625.2
《工業、科學和醫療（ISM）射頻設備電磁騷擾特性限值和測量方法》

《醫用電氣設備第1-2部分：安全通用要求并列標準：電磁兼容要求和試驗》

《測量、控制和實驗室用的電設備電磁兼容性要求第1部分：通用要求》

《測量、控制和實驗室用的電設備電磁兼容性要求第26部分：特殊要求體外診斷（IVD）設備》

電磁兼容限值諧波電流發射限值（設備每相輸入電流≤16A）》

《電磁(ci)兼容限值(zhi) 對(dui)每相額(e)定電流(liu)≤16A且無條件接(jie)入(ru)的設(she)備在公用低(di)壓供電系統(tong)中產(chan)生的電壓變化、電壓波動和閃爍的限制(zhi)》

測試項目

EMS測試項目3

? 靜電放電抗擾度，接觸放電20KV，空氣放電25KV
? 射頻輻射抗擾度-電波暗室法,80MHZ-18GHZ
? 射頻輻射抗擾度-大電流注入法（BCI）1MHZ-400MHZ
? 射頻輻射抗擾度-TEM小室&帶狀線法0.01MHZ-200MHZ
? 瞬態傳導抗擾度及電源變化抗擾度
? 電快速瞬變群脈沖抗擾度，最高測試電平4KV
? 浪涌（沖擊）抗擾度，最高測試電平7KV
? 電壓(ya)暫降、短時中斷和(he)電壓(ya)變化抗擾度，依(yi)據(ju)IEC61000-

EMI測試項目3

? 傳導騷擾電壓，150KHZ-108MHZ，QP/AV/PEAK
? 輻射騷擾，150KHZ-2.5GHZ，QP/AV/PEAK
? 諧波電流發射測試，依據IEC 61000-3-2測試
? 電壓波動及閃爍測試，依據IEC 61000-3-3測試
? 電壓波動及閃爍測試，依據IEC 61000-3-11測試

其他行業解決方案

上海(hai)索莘電(dian)(dian)子在(zai)醫療，車載電(dian)(dian)子，家電(dian)(dian)，照明(ming)，電(dian)(dian)器，電(dian)(dian)源，電(dian)(dian)力(li)設(she)施等(deng)眾多行(xing)業中(zhong)都廣(guang)泛(fan)應用

更(geng)多解決方案(an)

相關產品

單相10A周波跌落發生器VDT S10

型號：VDT S10

電(dian)(dian)(dian)壓(ya)暫(zan)降(jiang)(jiang)、短(duan)時(shi)中斷是由電(dian)(dian)(dian)網(wang)、電(dian)(dian)(dian)力設(she)施的(de)故(gu)障(zhang)或負荷突然(ran)出現大的(de)變化引起的(de)。在(zai)某(mou)些(xie)情(qing)況下會出現兩次(ci)或更(geng)多次(ci)連續的(de)暫(zan)降(jiang)(jiang)或中斷。電(dian)(dian)(dian)壓(ya)變化是由連接到電(dian)(dian)(dian)網(wang)的(de)負荷連續變化引起的(de)。如果(guo)EUT對電(dian)(dian)(dian)源電(dian)(dian)(dian)壓(ya)的(de)變化不能(neng)(neng)及(ji)時(shi)做出反(fan)應(ying)，就有可能(neng)(neng)引發(fa)故(gu)障(zhang)。周波跌落發(fa)生器(qi)用于評估電(dian)(dian)(dian)氣(qi)和電(dian)(dian)(dian)子(zi)設(she)備在(zai)遭(zao)受(shou)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)暫(zan)降(jiang)(jiang)、短(duan)時(shi)中斷和電(dian)(dian)(dian)壓(ya)變化時(shi)的(de)性能(neng)(neng)，產品滿足IEC61000-4-11和GB/T17626.11等新(xin)標準要求。

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自然界的(de)雷(lei)擊（間接(jie)雷(lei)）以及(ji)供電線(xian)路中(zhong)因大(da)型開關切(qie)換所引起(qi)的(de)電壓變化對供電線(xian)路和通信線(xian)路的(de)影響(xiang)，其能量特別大(da)，對產(chan)品的(de)影響(xiang)可(ke)能是破壞性的(de)。雷(lei)擊浪涌發生器(qi)用于評估(gu)設備(bei)在遭受來自電源線(xian)端(duan)口(kou)和其他信號線(xian)端(duan)口(kou)上高能量騷擾(rao)時的(de)性能。產(chan)品滿足(zu)IEC61000-4-5和GB/T17626.5等新(xin)標準(zhun)要求。

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單相5KV脈沖群發生器EFT S4

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電(dian)路中，諸如來(lai)自切(qie)換瞬(shun)態過程（切(qie)斷感性負載、繼電(dian)器(qi)觸點彈掉(diao)等），通常會對同(tong)一(yi)電(dian)路中的(de)(de)(de)其他電(dian)氣和(he)電(dian)子設(she)備(bei)產生干擾。這類干擾的(de)(de)(de)特(te)點是：高(gao)(gao)幅值、短上升時間、高(gao)(gao)重復率和(he)低能(neng)(neng)量。成群(qun)出(chu)現(xian)的(de)(de)(de)窄脈(mo)(mo)沖可對半導體器(qi)件的(de)(de)(de)結電(dian)容充電(dian)，當累(lei)積到(dao)一(yi)定程度后可能(neng)(neng)引起電(dian)路或設(she)備(bei)出(chu)錯(cuo)。脈(mo)(mo)沖群(qun)發生器(qi)為評估電(dian)氣和(he)電(dian)子設(she)備(bei)的(de)(de)(de)供電(dian)電(dian)源端(duan)口(kou)、信號、控制和(he)接地端(duan)口(kou)在受到(dao)電(dian)快速(su)瞬(shun)變脈(mo)(mo)沖群(qun)干擾時的(de)(de)(de)性能(neng)(neng)確定一(yi)個共同(tong)的(de)(de)(de)能(neng)(neng)再(zai)現(xian)的(de)(de)(de)評定依據。產品滿足IEC61000-4-4、EN60100-4-4和(he)GB/T17626.4等新標準要(yao)求。

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